Zobrazeno 1 - 10 of 10 pro vyhledávání: '"Aman, Mehadi"'
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
20‐1: Distinguished Paper: Advanced Hybrid Process with Back Contact IGZO‐TFT.
Autor: Honjo, Masatomo, Takeda, Yujiro, Aman, Mehadi, Ito, Kazuatsu, Tanaka, Kohei, Matsukizono, Hiroshi, Nakamura, Wataru
Publikováno v: SID Symposium Digest of Technical Papers; Jun2022, Vol. 53 Issue 1, p214-217, 4p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Periodical
20‐1: Distinguished Paper:Advanced Hybrid Process with Back Contact IGZO‐TFT
Autor: Honjo, Masatomo, Takeda, Yujiro, Aman, Mehadi, Ito, Kazuatsu, Tanaka, Kohei, Matsukizono, Hiroshi, Nakamura, Wataru
Publikováno v: SID Symposium Digest of Technical Papers; June 2022, Vol. 53 Issue: 1 p214-217, 4p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
7‐1: Distinguished Paper: Reliability Improvement of IGZO‐TFT in Hybrid Process with LTPS.
Autor: Aman, Mehadi, Takeda, Yujiro, Ito, Kazuatsu, Yamamoto, Kaoru, Tanaka, Kohei, Matsukizono, Hiroshi, Nakamura, Wataru, Makita, Naoki
Publikováno v: SID Symposium Digest of Technical Papers; May2021, Vol. 52 Issue 1, p57-60, 4p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Low temperature processes for metal-oxide thin film transistors.
Autor: Fruehauf, Norbert, Herrmann, Marcus, Baur, Holger, Aman, Mehadi
Publikováno v: 2015 22nd International Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays & Devices (AM-FPD); 2015, p39-42, 4p
Zobrazit plný text záznamu
10
Periodical
Correlation between passivation film density and reliability of In-Ga-Zn-O thin-film transistors
Autor: Aman, Mehadi, Furuta, Mamoru
Publikováno v: Japanese Journal of Applied Physics; August 2018, Vol. 57 Issue: 8 p088001-088001, 1p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje