Zobrazeno 1 - 10
of 41
pro vyhledávání: '"Alsmeier, J."'
Autor:
Amon, J., Kieslich, A., Heineck, L., Schuster, T., Faul, J., Luetzen, J., Fan, C., Huang, C.C., Fischer, B., Enders, G., Kudelka, S., Schroeder, U., Kuesters, K.H., Lange, G., Alsmeier, J.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p73-76, 4p
Autor:
Li, Y., Mandelman, J., Parries, P., Matsubara, Y., Ye, Q., Rengarajan, R., Alsmeier, J., Flietner, B., Wheeler, D., Akatsu, H., Divakaruni, R., Mohler, R., Sunouchi, K., Bronner, G., Chen, T.C.
Publikováno v:
1999 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications Proceedings of Technical Papers (Cat No99TH8453); 1999, p251-254, 4p
Publikováno v:
Physics of Semiconductors - Proceedings of the 20th International Conference (In 3 Volumes); 1990, p2355-2358, 4p
Autor:
Nesbit, L., Alsmeier, J., Chen, B., DeBrosse, J., Faheyk, P., Gall, M., Gambino, J., Gernhard, S., Ishiuchi, H., Kleinhenz, R., Mandelman, J., Mii, T., Morikado, M., Nitayama, A., Parke, S., Wong, H., Bronner, G.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting; 1993, p627-630, 4p
Publikováno v:
27th European Solid-State Device Research Conference; 1997, p49-56, 8p
Autor:
Hoenigschmid, H., Frey, A., DeBrosse, J.K., Kirihata, T., Mueller, G., Storaska, D.W., Daniel, G., Frankowsky, G., Guay, K.P., Hanson, D.R., Hsu, L.L.-C., Ji, B., Netis, D.G., Panaroni, S., Radens, C., Reith, A.M., Terletzki, H., Weinfurtner, O., Alsmeier, J., Weber, W.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; May2000, Vol. 35 Issue 5, p713-718, 6p
Autor:
Eldada, Louay A., Heben, Michael J., Bär, M., Starr, D. E., Lambertz, A., Holländer, B., Alsmeier, J.-H., Weinhardt, L., Blum, M., Gorgoi, M., Yang, W., Wilks, R. G., Heske, C.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; October 2014, Vol. 9177 Issue: 1 p91770E-91770E-3, 825934p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Divakaruni, R., Weybright, M., Li, Y., Gruening, U., Mandelman, J., Gambino, J., Alsmeier, J., Bronner, G.
Publikováno v:
1999 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications Proceedings of Technical Papers (Cat No99TH8453); 1999, p255-257, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.