Zobrazeno 1 - 10
of 25
pro vyhledávání: '"Ali, Noohul Basheer Zain"'
Burn-in is accepted as a way to evaluate ageing effects in an accelerated manner. It has been suggested that burn-in stress may have a significant effect on the Negative Bias Temperature Instability (NBTI) of subthreshold CMOS circuits. This paper an
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1510.01370
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sheikh, Madiha Arshad, Ali, Noohul Basheer Zain, Hamid, Nor Hisham, Hussin, Fawnizu Azmadi, Shukla, Vineeta
Publikováno v:
2015 6th Asia Symposium on Quality Electronic Design (ASQED); 2015, p186-191, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Shaheen, Ateeq-Ur-Rehman, Hussin, Fawnizu Azmadi, Hamid, Nor Hisham, Ali, Noohul Basheer Zain
Publikováno v:
2014 5th International Conference on Intelligent & Advanced Systems (ICIAS); 2014, p1-5, 5p
Publikováno v:
2014 5th International Conference on Intelligent & Advanced Systems (ICIAS); 2014, p1-5, 5p