Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Alexander Yu. Nikiforov"'
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 31, Iss 1, Pp 5-7 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9eefd66b08dc4fb99316e131bafb747e
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 30, Iss 4, Pp 5-13 (2023)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/89361688d0d643a09c2e6197e885c174
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 30, Iss 3, Pp 6-10 (2023)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0387383cc51a4d80a95a81ccd86fa047
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 30, Iss 2, Pp 7-11 (2023)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/001bd8cf994d4dfe9b3d6c797a42a2a5
Autor:
Alexander Yu. Nikiforov
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 31, Iss 3, Pp 5-8 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9c55b868e79c47b79d57474cb42c6e82
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 31, Iss 3, Pp 23-25 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0038522315734e7ab61e5de4e806f18f
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 31, Iss 1, Pp 42-53 (2024)
Trust (in reliable and safe operation) in a microelectronics product is mainly «laid down» at the stage of its development and is managed by guarantees of quality and reliability, the developer's qualifications and experience, a rational choice of
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/16fbf66a6cf34dfbb92f907a54c80c20
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 31, Iss 1, Pp 35-39 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/dd22a4d4187d4a88bddf847253afc309
Autor:
Alexander Yu. Nikiforov
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 30, Iss 3 (2023)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/744aef0327204f84a1be97a46e43fdb1
Autor:
Alexander Yu. Nikiforov
Publikováno v:
Безопасность информационных технологий, Vol 29, Iss 4, Pp 5-8 (2022)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/d111b8e50cdc471cba2be324ec59766f