Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Alex F. Pless"'
Autor:
Don E. Yansen, Russell Mello, N. J. Guarino, S. Shenoy, David A. Townzen, R. W. DiNuccio, Mark D. Dimanna, J. David Casey, Alex F. Pless, G. Onorio
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Inspection and repair offer higher yields and lower costs for AMLCDs, plasma displays and field emission displays, especially as display size increases. For repair to contribute, it must be fast and fully reliable. Building on L1 technology, a second
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::83f3b2b156ce6968a35c769e665e32e4
https://doi.org/10.1117/12.207517
https://doi.org/10.1117/12.207517
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.