Zobrazeno 1 - 10
of 162
pro vyhledávání: '"Ales, M."'
Autor:
Bouhada, Ales M.
This paper studies several singularity categories of a locally bounded $k-$linear category $\mathscr{C}$ with radical square zero. Following the work of Bautista and Liu [6], we give a complete description of $D^{b}_{sg}(\mathscr{C})$, $D^{b}_{sg}(\m
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1901.05087
Autor:
Bouhada, Ales M.
This short paper is another way to say that one can attack the Cohen-Macaulay-ness conjecture in the geometry of quiver variety using homological algebra.
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1809.10753
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tendas, A, Cudillo, L, Niscola, P, Cupelli, L, Picardi, A, Spagnoli, A, Scaramucci, L, Giovannini, M, Ales, M, Mirabile, M, Bove, F, Falco, S, Dentamaro, T, Fabritiis, P
Publikováno v:
Infection Control & Hospital Epidemiology. 32:408-410
Autor:
Postorino, M, Pupo, L, Di Caprio, L, Campagna, S, Franceschini, L, Renzi, D, Rizzo, M, Gianni, L, Faccia, S, Cannarsa, R, Ales, M, Buccisano, F, Venditti, D, Cantonetti, M, Amadori, S
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3667::2d1fbcb9abf9758a41dc0b3b15a73818
http://hdl.handle.net/2108/69294
http://hdl.handle.net/2108/69294
Autor:
Niscola, P., Scaramucci, L., Romani, C., Cupelli, L., Tendas, A., Dentamaro, T., Ales, M., Giovannini, M., Piccioni, D., Tolu, B., Perrotti, A., Keefe, D., de Fabritiis, P.
Publikováno v:
In Annals of Oncology September 2008 19 Supplement 7:vii141-vii145
Autor:
Agarwala, S., Koeppen, P., Anderson, T., Hill, A., Ales, M., Damodaran, R., Nardini, L., Wiley, P., Mullinnix, S., Leach, J., Lell, A., Gill, M., Golston, J., Hoyle, D., Rajagopal, A., Chachad, A., Agarwala, M., Castille, R., Common, N., Apostol, J.
Publikováno v:
2002 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37315); 2002, p38-390, 353p
Publikováno v:
Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium; 1994, p192-196, 5p