Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Alan Shafi"'
Publikováno v:
2015 IEEE Workshop on Microelectronics and Electron Devices (WMED).
The effect of multiple Si processes on the intrinsic sheet resistance of CoSi2 resistors is investigated in this article. It is discovered that CoSi2 intrinsic sheet resistance is not a simple function of the CoSi thickness, but rather depends on man
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a878256260e29ea5a8c55a4f58b21c56
https://doi.org/10.1109/wmed.2015.7093687
https://doi.org/10.1109/wmed.2015.7093687
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.