Zobrazeno 1 - 10
of 139
pro vyhledávání: '"Alam Syed M"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lenis, Andrew T., Whiting, Karissa, Ravichandran, Vignesh, Tallman, Jacob E., Alam, Syed M., Chu, Carissa E., Jesus Escano, Manual De, Bochner, Emily, Katims, Andrew, Reisz, Peter A., Truong, Hong, Clinton, Timothy N., Telis, Leon, Dason, Shawn, McPherson, Victor, Teo, Min Yuen, Funt, Samuel, Aggen, David, Goh, Alvin C., Donahue, Timothy F.
Publikováno v:
JCO Precision Oncology; 12/1/2024, Vol. 8, p1-15, 15p
Autor:
El-Arabi, Ahmad M. a, Alam, Syed M. a, Dai, Junqiang b, Thompson, Jeffrey b, Baden, Matthew c, Siculietano, Jessica d, Kerley, Patrick d, Englert, Shelby d, Nitti, Victor W. e, Hussman, Douglas A. f, Thrasher, J. Brantley a, Brannigan, Robert E. g, Sandlow, Jay I. h, Nangia, Ajay K. a, ⁎
Publikováno v:
In Urology November 2021 157:51-56
Autor:
Alam, Syed M. a, Larson, Matthew a, Srinivasan, Pugazhendhi b, Genz, Nick a, Fleer, Ryan c, Sardiu, Mihaela d, Thompson, Jeffrey d, Lee, Eugene a, Hamilton-Reeves, Jill a, b, e, Wulff-Burchfield, Elizabeth e, ⁎
Publikováno v:
In Urologic Oncology: Seminars and Original Investigations October 2023 41(10):431-431
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
We present a novel hybrid CMOS-MQCA architecture using multi-layer Spintronic devices as computing elements. A feasibility study is presented with 22nm CMOS where new approaches for spin transfer torque induced clocking and read-out scheme for variab
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1102.4034
Publikováno v:
Microelectronics Reliability, 2010
The application of current generation computing machines in safety-centric applications like implantable biomedical chips and automobile safety has immensely increased the need for reviewing the worst-case error behavior of computing devices for faul
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0906.3282
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.