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Autor:
Akgul, Yeter
Au-delà du nœud technologique CMOS BULK 28nm, certaines limites ont été atteintes dans l'amélioration des performances en raison notamment d'une consommation énergétique devenant trop importante. C'est une des raisons pour lesquelles de nouvel
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2014MON20132/document
Publikováno v:
In IFAC Proceedings Volumes January 2011 44(1):1940-1945
Publikováno v:
France, Patent n° : PCT/FR2014/052205. 2015
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7ee11869a6a7d8751ef194128104b913
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01421586
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01421586
Autor:
Akgul, Yeter
Publikováno v:
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Montpellier II-Sciences et Techniques du Languedoc, 2014. Français. ⟨NNT : 2014MON20132⟩
Beyond 28nm CMOS BULK technology node, some limits have been reached in terms of performance improvements. This is mainly due to the increasing power consumption. This is one of the reasons why new technologies have been developed, including those ba
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d5274a5a04c4d714f7c884fc6e330278
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01654475/document
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01654475/document
Publikováno v:
2015 IEEE 13th International New Circuits & Systems Conference (NEWCAS); 2015, p1-4, 4p
Autor:
Akgul, Yeter, Puschini, Diego, Lesecq, Suzanne, Beigné, Edith, Miro-Panades, Ivan, Benoit, Pascal, Torres, Lionel
Publikováno v:
Proceedings of the the 51st Annual Design Automation Conference Design Automation Conference; 6/1/2014, p1-6, 6p
Publikováno v:
2014 IEEE Conference on Control Applications (CCA); 2014, p2028-2033, 6p
Publikováno v:
IECON 2012 - 38th Annual Conference on IEEE Industrial Electronics Society; 1/ 1/2012, p2168-2173, 6p