Zobrazeno 1 - 10
of 142
pro vyhledávání: '"Ajimsha, R. S."'
In order to achieve ultrafast response in MgZnO based self-powered Schottky type photodetectors, it is crucial to decrease both the junction capacitance and carrier transit time. To meet these criteria, Au/MgZnO/ITO Schottky junction photodetectors h
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2306.11340
Energy harvesting from shadow-effect is the generation of electrical power from a Schottky junction when a part of it is kept in shadow and the remaining under illumination. It has been recently invented in Au/n-Si junctions, where modulation of work
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2009.03659
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Epitaxy of ZnO layers on cubic GaP (111) substrates has been demonstrated using pulsed laser deposition. Out of plane and in-plane epitaxial relationship of ZnO layer with respect to GaP substrate determined using phi scans in high resolution X-ray d
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1406.4341
Autor:
Das, Amit K., Ajimsha, R. S.
Si doped ZnO thin films with Si concentrations ranging from 0.4 to 10 % have been grown by sequential pulsed laser deposition on sapphire substrates. The resistivity of the films first decreased from ~ 6.6x10-3 to 4.7x10-4 ohm-cm as the Si concentrat
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1303.6443
This paper addresses the effect of disorder on the carrier transport mechanism of atomic layer deposited ZnO thin films as has been investigated by temperature dependent electrical resistivity measurements in the temperature range of 4.2K to 300K. Fi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1301.1172