Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Ait Abdelmalek, Ghania"'
1
Akademický článek
Experimental analysis of NBTI effects on QDI circuits with resistive bridging faults
Autor: Lamine, Zina, Ait Abdelmalek, Ghania, Ziani, Rezki, Mokdad, Rabah
Publikováno v: In Microelectronics Reliability December 2024 163
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje