Výsledky vyhledávání - "Aikyo, Takashi"

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Knihovna bude uzavřena od 23. 12. 2024 do 3. 1. 2025.

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Aikyo, Takashi"
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 26 pro vyhledávání: '"Aikyo, Takashi"'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

BAST: BIST-aided scan test. A new method for test cost reduction.

Autor: Aikyo, Takashi¹, Hiraide, Takahisa², Emori, Michiaki¹

Publikováno v: Electronics & Communications in Japan, Part 2: Electronics. May2007, Vol. 90 Issue 5, p58-65. 8p. 5 Charts, 9 Graphs.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 2 2

Adaptive Test Based on Statistical Timing Information

Autor: Shintani, Michihiro, Takahashi, Tomoyuki, Ueyama, Hiroyuki, uezono, takumi, Sato, Takashi, Hatayama, Kasumi, Aikyo, Takashi, Masu, Kazuya

Publikováno v: 2009 年電子情報通信学会総合大会.

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::24ac43f82c8b326c8fd23cc2f24a4a7f
http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100590958

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 7 7

Conference

A novel post-ATPG IR-drop reduction scheme for at-speed scan testing in broadcast-scan-based test compression environment.

Autor: Miyase, Kohei, Yamato, Yuta, Noda, Kenji, Ito, Hideaki, Hatayama, Kazumi, Aikyo, Takashi, Wen, Xiaoqing, Kajihara, Seiji

Publikováno v: 2009 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design - Digest of Technical Papers; Nov2009, p97-104, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

Effective IR-drop reduction in at-speed scan testing using Distribution-Controlling X-Identification.

Autor: Miyase, Kohei, Noda, Kenji, Ito, Hideaki, Hatayama, Kazumi, Aikyo, Takashi, Yamato, Yuta, Furukawa, Hiroshi, Wen, Xiaoqing, Kajihara, Seiji

Publikováno v: Proceedings of the 2008 IEEE/ACM International Conference: Computer-aided Design; 11/10/2008, p52-58, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

Estimation of delay test quality and its application to test generation.

Autor: Kajihara, Seiji, Morishima, Shohei, Yamamoto, Masahiro, Wen, Xiaoqing, Fukunaga, Masayasu, Hatayama, Kazumi, Aikyo, Takashi

Publikováno v: 2007 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design; Nov2007, p413-417, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
Další »
[3]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

14 Akademické články
11 Konferenční materiály

5 atpg
3 bist
3 circuit faults
3 computer adaptive testing
3 delays
3 fabrication (manufacturing)
3 fault coverage
3 industrial design
3 integrated circuits
3 large scale integration
3 parameter estimation
3 semiconductor device measurement
3 testing
2 budget
2 circuits
2 combinational circuits
2 cost control
2 cost effectiveness
2 industrial costs
2 test compression
2 test generation
2 value engineering
2 x-filling
1 at-speed scan testing
1 defect
1 diagnosis
1 equivalence
1 fault diagnosis
1 fault location
1 fault model
1 fault simulation
1 faults
1 identification
1 information
1 parametric faults
1 test cost reduction
1 test data compression
1 test patterns
1 test response compaction
1 timing analysis
1 transition faults

6 association for computing machinery
6 ieee
6 ieice-inst electronics information communications eng
2 wiley-blackwell
1 fujitsu ltd
1 ieee-inst electrical electronics engineers inc
1 publ by ieee
1 scripta technica-john wiley & sons

5 ieice transactions on information and systems
3 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits & systems
2 electronics & communications in japan, part 2: electronics
2 proceedings of the 2007 ieee acm international conference computer-aided design
1 2007 ieee/acm international conference on computer-aided design
1 2009 ieee/acm international conference on computer-aided design - digest of technical papers
1 dac: annual acm/ieee design automation conference
1 digest of papers - international test conference
1 electronics and communications in japan part ii-electronics
1 fujitsu scientific and technical journal
1 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
1 ieice transactions on fundamentals of electronics communications and computer sciences
1 proceedings - design automation conference
1 proceedings of the 2000 asia & south pacific design automation conference
1 proceedings of the 2008 ieee/acm international conference: computer-aided design
1 proceedings of the 34th annual design automation conference
1 proceedings of the asian test symposium

10 Complementary Index
8 Science Citation Index Expanded
4 Scopus®
2 Academic Search Ultimate
1 OpenAIRE
1 Business Source Ultimate

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......