Zobrazeno 1 - 10
of 135
pro vyhledávání: '"Aichinger, T."'
Autor:
Salmen, P., Feil, M.W., Waschneck, K., Reisinger, H., Rescher, G., Voss, I., Sievers, M., Aichinger, T.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2022 135
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2020 114
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2018, Vol. 124 Issue 4, pN.PAG-N.PAG, 10p, 2 Charts, 13 Graphs
Autor:
Gruber, G., Cottom, J., Meszaros, R., Koch, M., Pobegen, G., Aichinger, T., Peters, D., Hadley, P.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2018, Vol. 123 Issue 16, pN.PAG-N.PAG, 6p, 2 Diagrams, 1 Chart, 2 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/14/2016, Vol. 119 Issue 18, p181507-1-181507-9, 9p, 4 Diagrams, 1 Chart, 5 Graphs