Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Ahn, Geumho"'
Autor:
Rhee, Jihyun, Choi, Sungju, Kang, Hara, Kim, Jae-Young, Ko, Daehyun, Ahn, Geumho, Jung, Haesun, Choi, Sung-Jin, Myong Kim, Dong, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
In Solid State Electronics February 2018 140:90-95
Autor:
Jang, Jun Tae, Ko, Daehyun, Ahn, Geumho, Yu, Hye Ri, Jung, Haesun, Kim, Yeon Soo, Yoon, Chansoo, Lee, Sangik, Park, Bae Ho, Choi, Sung-Jin, Kim, Dong Myong, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
In Solid State Electronics February 2018 140:139-143
Autor:
Jang, Jun Tae, Ko, Daehyun, Choi, Sungju, Kang, Hara, Kim, Jae-Young, Yu, Hye Ri, Ahn, Geumho, Jung, Haesun, Rhee, Jihyun, Lee, Heesung, Choi, Sung-Jin, Kim, Dong Myong, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
In Solid State Electronics February 2018 140:115-121
Autor:
Jung, Haesun, Choi, Sungju, Jang, Jun Tae, Yoon, Jinsu, Lee, Juhee, Lee, Yongwoo, Rhee, Jihyun, Ahn, Geumho, Yu, Hye Ri, Kim, Dong Myong, Choi, Sung-Jin, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
In Solid State Electronics February 2018 140:80-85
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jang, Jun Tae, Yu, Hye Ri, Ahn, Geumho, Choi, Sung-Jin, Kim, Dong Myong, Kim, Yong-Sung, Oh, Saeroonter, Baeck, Ju Heyuck, Bae, Jong Uk, Park, Kwon-Shik, Yoon, Soo Young, Kang, In Byeong, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; May2018, Vol. 49 Issue 1, p232-235, 4p
Autor:
Jang, Jun Tae, Yu, Hye Ri, Ahn, Geumho, Choi, Sung-Jin, Kim, Dong Myong, Kim, Yong-Sung, Oh, Saeroonter, Baeck, Ju Heyuck, Bae, Jong Uk, Park, Kwon-Shik, Yoon, Soo Young, Kang, In Byeong, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; May 2018, Vol. 49 Issue: 1 p232-235, 4p