Výsledky vyhledávání - "Ahlport, B."

Akademický článek

Easy Prediction of Degradation in Transistor Current Gain over Large Ranges of Operating Current.

Autor: Ahlport, B. T., Anderson, S. L.

Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1984, Vol. 31 Issue 6, p1417-1422, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Transient Radiation Screening of Silicon Devices Using Backside Laser Irradiation.

Autor: King, E. E., Ahlport, B., Tettemer, G., Mulker, K., Linderman, P.

Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1982, Vol. 29 Issue 6, p1809-1815, 7p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Use of a Pinch Resistor for Neutron Hardness Assurance Screening of Bipolar Integrated Circuits.

Autor: Ahlport, B., King, E. E., Russo, J., Long, D. M.

Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1981, Vol. 28 Issue 6, p4318-4321, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Radiation Hardened CMNOS/SOS Mask Programmable Rom and General Processor Unit.

Autor: Cricchi, J. R., Barth, D. A., Oehler, H. G., Lyman, R. C., Shipley, J. M., Ahlport, B.

Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1977, Vol. 24 Issue 6, p2236-2243, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Hardened MNOS/SOS Electrically Reprogrammable Nonvolatile Memory.

Autor: Cricchi, J. R., Fitzpatrick, M. D., Blaha, F. C., Ahlport, B. T.

Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1977, Vol. 24 Issue 6, p2185-2189, 5p

Zobrazit plný text záznamu