Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Ahlers, Jannis N"'
Autor:
Alloo, Samantha J., Paganin, David M., Croughan, Michelle K., Ahlers, Jannis N., Pavlov, Konstantin M., Morgan, Kaye S.
A key contribution to X-ray dark-field (XDF) is X-ray diffusion by sample structures smaller than the imaging system's spatial resolution. However, some XDF techniques report that resolvable sample edges also generate XDF. Speckle-based X-ray imaging
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.18317
Autor:
Croughan, Michelle K, Paganin, David M, Alloo, Samantha J, Ahlers, Jannis N, How, Ying Ying, Harker, Stephanie A, Morgan, Kaye S.
In recent years, a novel x-ray imaging modality has emerged that reveals unresolved sample microstructure via a "dark-field image", which provides complementary information to conventional "bright-field" images, such as attenuation and phase-contrast
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2404.17612
Publikováno v:
Optica 11(8), 1182-1191 (2024)
Dark-field X-ray imaging is a novel modality which visualises scattering from unresolved microstructure. Most dark-field imaging techniques rely on crystals or structured illumination, but recent work has shown that dark-field effects are observable
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2309.15874
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.