Výsledky vyhledávání - "Ah, L. K."

Akademický článek

Effect of rapid thermal annealing on the structural and electrical properties of a silicon-silicon oxide system.

Autor: Choi, W. K., Chan, Y. M., Ah, L. K., Loh, F. C., Tan, K. L., Ramam, A.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 10/1/1995, Vol. 78 Issue 7, p4390, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Study of rf-sputtered yttrium oxide films on silicon by capacitance measurements.

Autor: Ling, C. H., Bhaskaran, J., Choi, W. K., Ah, L. K.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 6/15/1995, Vol. 77 Issue 12, p6350, 4p, 7 Graphs

Zobrazit plný text záznamu