Výsledky vyhledávání - "Agrawal, V.D."

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Agrawal, V.D."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 617 pro vyhledávání: '"Agrawal, V.D."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 5 5

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 6 6

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 7 7

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

Testing linear and non-linear analog circuits using moment generating functions.

Autor: Sindia, S., Agrawal, V.D., Singh, V.

Publikováno v: 2011 12th Latin American Test Workshop (LATW); 2011, p1-6, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

Reduced complexity test generation algorithms for transition fault diagnosis.

Autor: Yu Zhang, Agrawal, V.D.

Publikováno v: 2011 IEEE 29th International Conference on Computer Design (ICCD); 2011, p96-101, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Conference

Non-linear analog circuit test and diagnosis under process variation using V-Transform coefficients.

Autor: Sindia, S., Agrawal, V.D., Singh, V.

Publikováno v: 2011 IEEE 29th VLSI Test Symposium (VTS); 2011, p64-69, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[62]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

342 Konferenční materiály
274 Akademické články
7 Časopisy
7 Knihy

13 test generation
8 atpg
8 digital testing
8 fault diagnosis
7 test time reduction
6 digital test
5 delay test
5 fault simulation
5 machine learning (ml)
5 principal component analysis (pca)
5 process variation
5 test power
4 built-in self-test
4 hardware security
4 rf testing
4 scan test
4 testing
3 analog circuit test
3 delay testing
3 design for test
3 design for testability
3 digital circuits
3 dynamic power
3 fault detection
3 heuristics
3 multi-value logic (mvl)
3 parametric faults
3 path delay faults
3 reduced pin-count test (rpct)
3 sequential circuits
3 simulation
3 stuck-at fault
3 test points
3 test scheduling
3 test time
3 unsupervised learning
2 3d ic
2 3d stacked integrated circuits
2 aging
2 analog testing
2 artificial neural network (ann)
2 bist
2 circuit testing
2 cop
2 cost analysis
2 curve fitting
2 database search
2 defect level
2 detection probability
2 diagnosis

212 ieee
42 kluwer academic publishers
36 ieee computer society
36 institute of electrical and electronics engineers inc.
34 springer
27 springer new york llc
3 springer verlag
2 american scientific publishers
2 springer netherlands
1 allerton press inc.
1 association for computing machinery
1 bmj publishing group
1 elsevier
1 ieee comp soc
1 publ by ieee
1 sage publications ltd

145 journal of electronic testing: theory and applications (jetta)
43 proceedings of the ieee international conference on vlsi design
22 journal of electronic testing
19 ieee transactions on computers
18 proceedings of the ieee vlsi test symposium
16 ieee transactions on very large scale integration (vlsi) systems
10 proceedings of the ieee
9 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits & systems
7 proceedings of 9th international conference on vlsi design
6 2011 ieee 43rd southeastern symposium on system theory (ssst)
6 ieee transactions on very large scale integration systems
5 ieee design & test of computers
4 ieee journal of solid-state circuits
4 proceedings eleventh international conference on vlsi design
4 proceedings of the 16th international conference on vlsi design, 2003
4 proceedings of the 8th international conference on vlsi design
3 1992 proceedings 29th acm/ieee design automation conference
3 2007 ieee international test conference
3 2011 ieee 29th vlsi test symposium (vts)
3 ieee international symposium on circuits & systems
3 proceedings of 7th international conference on vlsi design
3 proceedings tenth international conference on vlsi design
3 proceedings twelfth international conference on vlsi design (cat nopr00013)
2 18th international conference on vlsi design held jointly with 4th international conference on embedded systems design
2 1989 ieee international conference on computer-aided design digest of technical papers
2 1991 proceedings fourth csi/ieee international symposium on vlsi design
2 1991 proceedings ieee international conference on computer design: vlsi in computers & processors
2 1992 proceedings the european conference on design automation
2 1993 proceedings third great lakes symposium on vlsi-design automation of high performance vlsi systems
2 2008 40th southeastern symposium on system theory (ssst)
2 2009 14th ieee european test symposium
2 2010 42nd southeastern symposium on system theory (ssst)
2 2011 12th latin american test workshop (latw)
2 21st international conference on vlsi design (vlsid 2008)
2 fifth international conference on vlsi design
2 ieee electron device letters
2 proceedings 13th ieee vlsi test symposium
2 proceedings international test conference
2 proceedings international test conference 1996 test & design validity
2 proceedings international test conference 1997
2 proceedings of 1995 ieee international test conference (itc)
2 proceedings of asp-dac/vlsi design 2002. 7th asia & south pacific design automation conference & 15h international conference on vlsi design
2 proceedings of the 17th international conference on vlsi design
2 proceedings of the fourth asian test symposium
2 proceedings of the ninth asian test symposium
1 1988 ieee international conference on computer-aided design (iccad-89) digest of technical papers
1 1988 the eighteenth international symposium on fault-tolerant computing digest of papers
1 1989 proceedings of the 1st european test conference
1 1989 the nineteenth international symposium on fault-tolerant computing digest of papers
1 1990 digest of papers fault-tolerant computing: 20th international symposium

408 Scopus®
202 Complementary Index
7 Supplemental Index

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......