Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"Agnus, B."'
Autor:
Herique, A., Agnus, B., Asphaug, E., Barucci, A., Beck, P., Bellerose, J., Biele, J., Bonal, L., Bousquet, P., Bruzzone, L., Buck, C., Carnelli, I., Cheng, A., Ciarletti, V., Delbo, M., Du, J., Du, X., Eyraud, C., Fa, W., Gil Fernandez, J., Gassot, O., Granados-Alfaro, R., Green, S.F., Grieger, B., Grundmann, J.T., Grygorczuk, J., Hahnel, R., Heggy, E., Ho, T-M., Karatekin, O., Kasaba, Y., Kobayashi, T., Kofman, W., Krause, C., Kumamoto, A., Küppers, M., Laabs, M., Lange, C., Lasue, J., Levasseur-Regourd, A.C., Mallet, A., Michel, P., Mottola, S., Murdoch, N., Mütze, M., Oberst, J., Orosei, R., Plettemeier, D., Rochat, S., RodriguezSuquet, R., Rogez, Y., Schaffer, P., Snodgrass, C., Souyris, J-C., Tokarz, M., Ulamec, S., Wahlund, J-E., Zine, S.
Publikováno v:
In Advances in Space Research 15 October 2018 62(8):2141-2162
Publikováno v:
EuMC 2019
EuMC 2019, Sep 2019, Paris, France
EuMC 2019, Sep 2019, Paris, France
International audience; This paper introduces a fast analysis of signal integrity (SI) and electromagnetic compatibility (EMC) conducted emission (CE) for a multilayer printed circuit board (PCB). The analysis consists in elaborating the ICEM of PCB
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::20648dfb08861609211a3239d9924ee0
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02485759
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02485759
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fresnaud, V., Bossuet, L., Dallet, D., Bernard, S., Janik, J.M., Agnus, B., Cauvet, Ph., Gandy, Ph.
Publikováno v:
Eleventh IEEE European Test Symposium (ETS'06); 2006, p193-198, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.