Zobrazeno 1 - 10
of 77
pro vyhledávání: '"Aging monitoring"'
Autor:
Wu, Yusen a, Jing, Jian a, Lai, Tao c, Shen, Peng a, Hou, Yongqi a, Mao, Feilong a, Liu, Yijia a, Lu, Huizhen a, Zheng, Kai b, Ma, Xiangdong b, Sun, Lei d, Zhang, Hui a, ⁎
Publikováno v:
In Applied Acoustics 5 February 2025 229
Autor:
Dounavi, Helen-Maria ∗, Tsiatouhas, Yiorgos
Publikováno v:
In Integration January 2023 88:108-115
Publikováno v:
Sensors, Vol 23, Iss 16, p 7069 (2023)
One of the threats to nanometric CMOS analog circuit reliability is circuit performance degradation due to transistor aging. To extend circuit operating life, the bias of the main devices within the circuit must be adjusted while the aging degradatio
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/86fdfc165e544bee9cee9b227a864d4a
Autor:
Grangeat, Romain a, ⁎, Girard, Marion a, Lupi, Cyril b, Leduc, Dominique b, Jacquemin, Frédéric a
Publikováno v:
In Mechanical Systems and Signal Processing July 2020 141
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Khoshavi, Navid a, Ashraf, Rizwan A. b, DeMara, Ronald F. a, Kiamehr, Saman c, Oboril, Fabian c, Tahoori, Mehdi B. c, ⁎
Publikováno v:
In Integration, the VLSI Journal September 2017 59:10-22
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In International Journal of Hydrogen Energy 12 January 2017 42(2):1466-1471
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.