Zobrazeno 1 - 10
of 13
pro vyhledávání: '"Agarwala, Sambhu"'
Autor:
Agarwala, Sambhu, King, Oliver, Horst, Scott, Wilson, Rick, Stone, Dennis, Dagenais, Mario, Chen, Y. J.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 1999, Vol. 17 Issue 1, p52-55, 4p
Autor:
Agarwala, Sambhu, Horst, Scott C., King, Oliver, Wilson, Rick, Stone, Dennis, Dagenais, Mario, Chen, Y. J.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1998, Vol. 16 Issue 2, p511-514, 4p
Autor:
Porkolab, G. A., Chen, Y. J., Tabatabaei, Seyed Ahmad, Agarwala, Sambhu, Johnson, F. G., King, Oliver, Dagenais, M., Frizzell, Russell E., Beard, W. T., Stone, D. R.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1997, Vol. 15 Issue 6, p1961-1965, 5p
Autor:
Porkolab, G. A., Hsu, Shih-Hsiang, Hryniewicz, John V., Lin, Wenhua, Chen, Y. J., Agarwala, Sambhu, Johnson, F. G., King, Oliver, Dagenais, M., Stone, D. R.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1996, Vol. 14 Issue 6, p3650-3653, 4p
Autor:
Fay, Patrick, Agarwala, Sambhu, Scafidi, Carl, Adesida, Ilesanmi, Caneau, Catherine, Bhat, Rajaram
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1994, Vol. 12 Issue 6, p3322-3326, 5p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1993, Vol. 11 Issue 6, p2258-2261, 4p
Autor:
Agarwala, Sambhu, Adesida, Ilesanmi
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 5/30/1994, Vol. 64 Issue 22, p2979, 3p, 1 Diagram, 3 Graphs
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 5/31/1993, Vol. 62 Issue 22, p2830, 3p, 1 Chart, 3 Graphs
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.