Výsledky vyhledávání

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Agaiby, R."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 45 pro vyhledávání: '"Agaiby, R."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Strained Si/SiGe MOS technology: Improving gate dielectric integrity

Autor: Olsen, S.H., Yan, L., Agaiby, R., Escobedo-Cousin, E., O’Neill, A.G., Hellström, P.-E., Östling, M., Lyutovich, K., Kasper, E., Claeys, C., Parker, E.H.C.

Publikováno v: In Microelectronic Engineering 2009 86(3):218-223

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Reduced self-heating by strained silicon substrate engineering

Autor: O’Neill, A., Agaiby, R., Olsen, S., Yang, Y., Hellstrom, P.-E., Ostling, M., Oehme, M., Lyutovich, K., Kasper, E., Eneman, G., Verheyen, P., Loo, R., Claeys, C., Fiegna, C., Sangiorgi, E.

Publikováno v: In Applied Surface Science 2008 254(19):6182-6185

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Stress and doping uniformity of laser crystallized amorphous silicon in thin film silicon solar cells.

Autor: Agaiby, R. M. B., Becker, M., Thapa, S. B., Urmoneit, U., Berger, A., Gawlik, A., Sarau, G., Christiansen, S. H.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; Mar2010, Vol. 107 Issue 5, p054312-054320, 9p, 6 Diagrams, 1 Chart, 5 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Time dependent dielectric breakdown of amorphous ZrAlxOy high-k dielectric used in dynamic random access memory metal-insulator-metal capacitor.

Autor: Zhou, Dayu, Schroeder, U., Jegert, G., Kerber, M., Uppal, S., Agaiby, R, Reinicke, M., Heitmann, J., Oberbeck, L.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; Aug2009, Vol. 106 Issue 4, p044104-1-044104-4, 4p, 6 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Nanometer strain profiling through Si/SiGe quantum layers.

Autor: Agaiby, R. M. B., Olsen, S. H., Dobrosz, P., Coulson, H., Bull, S. J., O’Neill, A. G.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; Jul2008, Vol. 104 Issue 1, p013507, 6p, 3 Diagrams, 6 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Gate leakage mechanisms in strained Si devices.

Autor: Yan, L., Olsen, S. H., Kanoun, M., Agaiby, R., O'Neill, A. G.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 11/15/2006, Vol. 100 Issue 10, p104507, 6p, 2 Diagrams, 1 Chart, 8 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Conference

6F2 buried wordline DRAM cell for 40nm and beyond.

Autor: Schloesser, T., Jakubowski, F., v. Kluge, J., Graham, A., Slesazeck, S., Popp, M., Baars, P., Muemmler, K., Moll, P., Wilson, K., Buerke, A., Koehler, D., Radecker, J., Erben, E., Zimmermann, U., Vorrath, T., Fischer, B., Aichmayr, G., Agaiby, R., Pamler, W.

Publikováno v: 2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 9 9

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 10 10

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
Další »
[5]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

32 Akademické články
11 Konferenční materiály
1 Knihy

5 mosfet
5 strained silicon
4 raman spectroscopy
4 thin films
3 cmos
3 field-effect transistors
3 gate array circuits
3 ge
3 metal oxide semiconductor field-effect transistors
3 self heating
3 self-heating
3 si
3 silicon
3 tddb
3 thermal conductivity
2 alloys
2 amorphous semiconductors
2 bti
2 capacitors
2 channel thickness
2 chemical vapor deposition
2 conduction bands
2 dielectrics research
2 diffusion
2 dynamic random access memory
2 electric leakage
2 electric power consumption
2 films
2 fixed oxide charge
2 high-k
2 layers
2 metal-insulator transitions
2 metallic oxides
2 mim capacitor
2 mobility
2 mosfets
2 n-mosfets
2 off-state
2 oxygen vacancies
2 performance
2 quantum tunneling
2 rapid thermal processing
2 silicon compounds
2 solar cells
2 strained si
2 strained-si
2 strains & stresses (mechanics)
2 stress-induced leakage current (silc)
2 surface channel
2 thermal budget

8 american institute of physics
4 amer inst physics
4 elsevier b.v.
4 institute of electrical and electronics engineers inc.
2 electrochemical society inc.
2 elsevier science bv
2 ieee
2 ieee computer society
2 materials research society
1 elsevier
1 ieee-inst electrical electronics engineers inc
1 john wiley and sons
1 john wiley and sons inc

14 journal of applied physics
6 ieee transactions on electron devices
4 applied surface science
4 microelectronic engineering
2 ecs transactions
2 ieee electron device letters
2 materials research society symposium proceedings
1 2008 ieee international electron devices meeting
1 2014 ieee international reliability physics symposium
1 digest of technical papers - sid international symposium
1 essderc 2006 - proceedings of the 36th european solid-state device research conference
1 icsict-2006: 2006 8th international conference on solid-state and integrated circuit technology, proceedings
1 ieee international reliability physics symposium proceedings
1 ieee transactions on device and materials reliability
1 nanoscale cmos: innovative materials, modeling and characterization
1 solid-state electronics
1 technical digest - international electron devices meeting, iedm

23 Scopus®
7 Science Citation Index Expanded
6 Complementary Index
6 Academic Search Ultimate
2 ScienceDirect
1 OpenAIRE

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......