Výsledky vyhledávání - "Aert, S. Van"

Akademický článek

Effect of amorphous layers on the interpretation of restored exit waves

Autor: Aert, S. Van, Chang, L.Y., Bals, S., Kirkland, A.I., Tendeloo, G. Van

Publikováno v: In Ultramicroscopy 2009 109(3):237-246

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

Physical Limits on Atomic Resolution

Autor: Dyck, D. Van, Aert, S. Van, Dekker, A.J. den

Publikováno v: Microscopy and Microanalysis; February 2004, Vol. 10 Issue: 1 p153-157, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

Does a monochromator improve the precision in quantitative HRTEM?

Autor: Dekker, A. J. den, Aert, S. Van, Dyck, D. Van, Bos, A. van den, Geuens, P.

Publikováno v: Ultramicroscopy; 2001, Vol. 89 Issue: 4 p275-290, 16p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Atomic Resolution Mapping Using Quantitative High-angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy.

Autor: Aert, S Van, Verbeeck, J, Bals, S, Erni, R, Dyck, D Van, Tendeloo, S Van

Publikováno v: Microscopy & Microanalysis; Jul2009 Supplement 2, Vol. 15 Issue S2, p464-465, 2p

Zobrazit plný text záznamu