Zobrazeno 1 - 10
of 101
pro vyhledávání: '"Adell, Philippe"'
Autor:
Cohen, Barbara A., Petersburg, Ryan R., Cremons, Daniel R., Russell, Patrick S., Hayne, Paul O., Greenhagen, Benjamin T., Paige, David A., Camacho, Jose Martinez, Cheek, Nathan, Sullivan, Mark T., Robles, Valeria Lopez, Ban, Jessica, Horvath, Tyler, Gonzalez, Collin W., Bagheri, Mahmood, Ryan, Chad P., Payne, Christopher G., Sellar, R. Glenn, Vinckier, Quentin P., Adell, Philippe C., Kneis, Christina M., Baker, John D., McDonald, Dillan A., Starr, Mason S., Hauge, Michael J., Gutierrez, Marilyn Braojos, Lammens, Robert G., Lightsey, E. Glenn, Ready, W. Jud
Publikováno v:
In Icarus 1 May 2024 413
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Adell, Philippe, Boch, Jérôme
Publikováno v:
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Short Course 2014
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Short Course 2014, 2014, Paris, France
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Short Course 2014, 2014, Paris, France
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::fc26ace76028e6ef221f64e78ac59af9
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01932591
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01932591
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; Nov2017, Vol. 52 Issue 11, p3081-3094, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Beohar, Navankur, Bakliwal, Priyanka, Roy, Sidhanto, Mandal, Debashis, Adell, Philippe, Vermeire, Bert, Bakkaloglu, Bertan, Ozev, Sule
Publikováno v:
2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS); 2015, p1-6, 6p
Autor:
Allen, Gregory R., Scheick, Leif Z., Irom, Farokh, Guertin, Steven M., Adell, Philippe C., Amrbar, Mehran, Vartanian, Sergeh, O'Connor, Michael
Publikováno v:
2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW); 2015, p1-14, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.