Zobrazeno 1 - 10
of 71
pro vyhledávání: '"Adell, P.C."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability October 2020 113
Autor:
Gaillardin, M., Raine, M., Paillet, P., Adell, P.C., Girard, S., Duhamel, O., Andrieu, F., Barraud, S., Faynot, O.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 15 December 2015 365 Part B:631-635
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(2):355-359
Publikováno v:
2009 European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2009, p155-159, 5p
Autor:
Laird, J.S., Scheik, L., Miyahira, T., Mojarradi, M.M., Blalock, B., Greenwell, R., Vizkelethy, G., Adell, P.C., Irom, F., Doyle, B.
Publikováno v:
2007 9th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems; 2007, p1-5, 5p
Publikováno v:
2007 9th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems; 2007, p1-8, 8p
Publikováno v:
Proceedings of the 7th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems, 2003 (RADECS 2003); 2003, p327-333, 7p
Publikováno v:
Proceedings of the 7th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems, 2003 (RADECS 2003); 2003, p301-304, 4p