Zobrazeno 1 - 10
of 35
pro vyhledávání: '"Adam Ley"'
Publikováno v:
2006 IEEE International Test Conference; 2006, p1-9, 9p
Autor:
Ley, Adam
Publikováno v:
SMT: Surface Mount Technology. Sep2013, Vol. 28 Issue 9, p42-47. 5p.
Publikováno v:
2004 International Conference on Test; 2004, p17-22, 6p
Publikováno v:
International Test Conference, 2003. Proceedings ITC 2003; 2003, p17-22, 6p
Publikováno v:
IEC 61671-6 Edition 1.0 2016-04; 2016, p1-38, 38p
Publikováno v:
IEC 61671-5 Edition 1.0 2016-04; 2016, p1-32, 32p
Publikováno v:
IEEE Std 1505.3-2015; 2016, p1-29, 29p
Publikováno v:
International Test Conference 1999 Proceedings (IEEE Cat No99CH37034); 1999, p730-737, 8p
Publikováno v:
Proceedings 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing (Cat No98EX232); 1998, p48-52, 5p