Observation framework of errors in microprocessors with machine learning location inference of radiation-induced faults

Autor: Thomet, Sébastien, Ghaffari, Fakhreddine, De Paoli, Serge, Daveau, Jean-Marc, Abouzeid, Fady, Romain, Olivier

Publikováno v: In Microelectronics Reliability October 2022 137

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

A 2.7 pJ/cycle 16 MHz, 0.7 microW Deep Sleep Power ARM Cortex-M0+ Core SoC in 28 nm FD-SOI

Autor: Lallement, Guénolé, Abouzeid, Fady, Cochet, Martin, Daveau, Jean-Marc, Roche, Philippe, Autran, Jean-Luc

Publikováno v: IEEE Journal of Solid-State Circuits
IEEE Journal of Solid-State Circuits, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2018, 53 (7), pp.2088-2100. ⟨10.1109/JSSC.2018.2821167⟩
IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2018, 53 (7), pp.2088-2100. ⟨10.1109/JSSC.2018.2821167⟩

International audience

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::c6b7a7d228599971fffb91739b56ce4c
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02111060

A 2.7 pJ/cycle 16 MHz, 0.7 $\mu\text{W}$ Deep Sleep Power ARM Cortex-M0+ Core SoC in 28 nm FD-SOI.

Autor: Lallement, Guenole, Abouzeid, Fady, Cochet, Martin, Daveau, Jean-Marc, Roche, Philippe, Autran, Jean-Luc

Publikováno v: IEEE Journal of Solid-State Circuits; Jul2018, Vol. 53 Issue 7, p2088-2100, 13p