Zobrazeno 1 - 10 of 27 pro vyhledávání: '"Abduvayitov, A. A."'
1
Akademický článek
Effect of argon ion bombardment on the composition, electronic structure and physical properties of cadmium fluoride
Autor: Abduvayitov Akbarjon, Tashmukhamedova Dilnoza, Umirzakov Boltakhodja, Bekpulatov Ilkhom, Khujaniyozov Jumanazar, Loboda Vera
Publikováno v: St. Petersburg Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics, Vol 17, Iss 3 (2024)
In the paper, the effect of bombardment with Ar+ ions on the composition, electronic and crystal structure of the surface layers of bulk single crystal samples and CdF2(111) films has been studied using the methods of Auger electron and ultraviolet p
Externí odkaz: https://doaj.org/article/45aceb1916e44fcd80e1c31e6647fa9c
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Study of the profiles of the distribution of atoms of the contacting material over the depth of pure and ion-doped silicon
Autor: Donaev S.B., Shirinov G.M., Ergasheva S., Rakhimov A.M., Wang Shenghao, Abduvayitov A.A.
Publikováno v: E3S Web of Conferences, Vol 383, p 04041 (2023)
Auger electron spectroscopy combined with ion etching was used to study the effect of ion doping on the distribution profiles of atoms in silicon in contact with its surface. It has been established that preliminary implantation of Ba+ ions with E0=0
Externí odkaz: https://doaj.org/article/93ac3149c4de4afb96438a20f6647c0c
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Changes in the electronic structure of the Si surface as a result of ion implantation
Autor: Donaev S.B., Ziyamukhamedova U.A., Kenjaeva M., Shirinov G.M., Rakhimov A.M., Abduvayitov A.A.
Publikováno v: E3S Web of Conferences, Vol 383, p 04040 (2023)
The composition, structure, and physicochemical properties of the surface and near-surface layers of silicon doped with low-energy (E0
Externí odkaz: https://doaj.org/article/49d0d68575a741538e533053e2809f76
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Effect of the Implantation of Ions on the Composition and Electronic Structure of CdS Films.
Autor: Umirzakov, B. E., Sodikjanov, J. Sh., Isakhanov, Z. A., Abduvayitov, A. A.
Publikováno v: Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques; Jun2024, Vol. 18 Issue 3, p594-597, 4p
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Effect of Electron Bombardment on the Composition and Structure of CaF2/Si(111) Films.
Autor: Abduvayitov, A. A., Tashmukhamedova, D. A., Umirzakov, B. E., Mamadalimov, A. T.
Publikováno v: Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques; Apr2024, Vol. 18 Issue 2, p491-494, 4p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Morphology, Composition, and Electronic Structure of the Surface of Thin CdS Films Grown on a Mo(III) Surface.
Autor: Umirzakov, B. E., Abduvayitov, A. A., Isakhanov, Z. A., Sodikjanov, J. Sh.
Publikováno v: Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques; Dec2023, Vol. 17 Issue 6, p1278-1281, 4p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Study of the Composition of Uncontrolled Impurities and the Profiles of Their Distribution at the Ni–CdS Interface.
Autor: Abduvayitov, A. A., Boltaev, Kh. Kh., Rozikov, G. A.
Publikováno v: Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques; Oct2022, Vol. 16 Issue 5, p860-863, 4p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje