Zobrazeno 1 - 10
of 839
pro vyhledávání: '"AFM manipulation"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Moreno-Moreno, Miriam, Ares, Pablo, Moreno, Consuelo, Zamora, Felix, Gomez-Navarro, Cristina, Gomez-Herrero, Julio
Publikováno v:
Nano Lett. 2019, 19, 8, 5459-5468
We introduce scanning-probe-assisted nanowire circuitry (SPANC) as a new method to fabricate electrodes for the characterization of electrical transport properties at the nanoscale. SPANC uses an atomic force microscope (AFM) to manipulate nanowires
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1910.04801
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Shafiei, Farbod
Moving nanoparticles/atoms to study the nearfield interaction between them is one of the many approaches to explore the optical and electrical properties of these assemblies. Traditional approach included the self assembly by spinning or drying nanop
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1501.01934
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 6, Iss 1, Pp 2278-2289 (2015)
Nanoscale rippling induced by an atomic force microscope (AFM) tip can be observed after performing one or many scans over the same area on a range of materials, namely ionic salts, metals, and semiconductors. However, it is for the case of polymer f
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cceb45b8e2f441c4b4d2f91e06f864de
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Enrico Gnecco
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 1, Iss 1, Pp 158-162 (2010)
The trajectories of differently shaped nanoparticles manipulated by atomic force microscopy are related to the scan path of the probing tip. The direction of motion of the nanoparticles is essentially fixed by the distance b between consecutive scan
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f210ccc736724e6ba9b30f5e7730229f
Autor:
Rieger, Johannes
Ein bedeutender Teilbereich der Nanomechanik beschäftigt sich mit der Erforschung kleiner, schwingender Systeme, welche aufgrund ihrer geringen Massen auf minimale Umgebungseinflüsse reagieren. Dies macht derartige nanoskalige Resonatoren zu äuße
Externí odkaz:
http://edoc.ub.uni-muenchen.de/15962/1/Rieger_Johannes.pdf
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:19-159621
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:19-159621
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:687-691