Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"A.T.C. Chien"'
Publikováno v:
2008 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics.
Experimental condition of thin SAB Oxide around 350Aring coupling with 400Aring Contact SiON film has exhibited the worst data retention behavior in One Time Programmable (OTP) & Multiple Time Programmable (MTP) memory device. Another alternative sol
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e225e51abe1ca3c2ac3c06fa3ef16fa5
https://doi.org/10.1109/smelec.2008.4770346
https://doi.org/10.1109/smelec.2008.4770346
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.