Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"A.P.J. Effting"'
Autor:
Pieter Kruit, R. F. C. van Tol, Nalan Liv, Aernout Christiaan Zonnevylle, Angela C. Narvaez, Jacob P. Hoogenboom, A.P.J. Effting
Publikováno v:
Journal of Microscopy. 252:58-70
We present an integrated light-electron microscope in which an inverted high-NA objective lens is positioned inside a scanning electron microscope (SEM). The SEM objective lens and the light objective lens have a common axis and focal plane, allowing
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1b7e388b8f007323d289d66aaa1cc0c7
https://doi.org/10.1111/jmi.12071
https://doi.org/10.1111/jmi.12071
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 20:1006-1007
The SECOM platform enables accurate and straightforward correlative light and electron microscopy (CLEM) by integrating a fluorescence microscope in a scanning electron microscope (SEM). The SECOM platform can be fitted on a SEM by replacing the door
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0a4093866ef38fe0b8ef1c9c5215d317
https://doi.org/10.1017/s1431927614006758
https://doi.org/10.1017/s1431927614006758
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.