Zobrazeno 1 - 10
of 156
pro vyhledávání: '"A.N. Mansour"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Journal of Trend in Scientific Research and Development. 1
The olive leaf moth Palpita unionalis Lepidoptera Pyralidae is an economic pest of the commercial olive groves in Egypt and different Mediterranean countries. The present study was conducted aiming to assess the effects of Novaluron, a chitin synthes
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2659::d420dc84f22facb5017e3f7114938c82
https://zenodo.org/record/3573785
https://zenodo.org/record/3573785
Publikováno v:
Materials Science in Semiconductor Processing. 16:1988-1991
Tantalum silicide (TaSi 2 ) thin films were deposited on n-type silicon single crystal substrates using a dual electron-gun system and with Ta and Si targets. The electrical transport properties of the TaSi 2 /n-Si structures were investigated by tem
Publikováno v:
Solid State Communications. 152:1237-1240
Ceramic compositions of a complex perovskite Ca X Pb( 1− X )TiO 3 (CPT) systems with x =0.6, 0.7 and 0.8 were prepared by mechanical mixing of their oxides (CaTiO 3 and PbTiO 3 ). The structure of the (CPT) ceramics was characterized by X-ray diffr
Autor:
A.N. Mansour
Publikováno v:
Vacuum. 85:667-671
Tantalum silicide (TaSi 2 ) thin films were deposited on n-type silicon single crystal substrates using a dual electron-gun system and with Ta and Si targets. The thicknesses of TaSi 2 thin films considered in this study are in the range 200–500 nm
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.