Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"A.M. Shorin"'
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 80:205-212
The paper describes the modulation method of measuring the thermal impedance of semiconductor devices as well as its implementation. In contrast to the standard method (JESD51-1 standard) which requires heating the device under test by the stepped po
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ba6b3858d2ca795e8cdead902e4b5bf0
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.024
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.024
Publikováno v:
CAD/EDA, Modeling and Simulation in Modern Electronics. Part 1.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a9100daa68c7fd68dfdb1efc90705049
https://doi.org/10.30987/conferencearticle_5c19e5fd33eaf8.94643152
https://doi.org/10.30987/conferencearticle_5c19e5fd33eaf8.94643152
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.