Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"A.M. Miscione"'
Publikováno v:
IEEE 2011 International SOI Conference.
Though Silicon-on-Sapphire (SOS) has many applications for RF circuits, compressive strain in the hetero-epitaxially deposited silicon film reduces the electron mobility and diminishes its high-frequency performance. To eliminate this strain, we bond
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7fcb3e2b3d4cc608abfa45f5177036a4
https://doi.org/10.1109/soi.2011.6081706
https://doi.org/10.1109/soi.2011.6081706
Publikováno v:
10th Annual IEEE/SEMI. Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop. ASMC 99 Proceedings (Cat. No.99CH36295).
Bitmap to in-line defect overlay analysis was performed on a 4 Mbit SRAM memory array, which uses copper interconnect. This analysis provides an effective method of identifying killer copper defects, which inhibit product yield. It has been shown tha
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6588e61d7268515af080dd2194d26b5f
https://doi.org/10.1109/asmc.1999.798169
https://doi.org/10.1109/asmc.1999.798169
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.