Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"A.I.A. Elsawirki"'
Autor:
B. Kovacs, B. Szentpali, V. van Tuyen, Zs. J. Horváth, A.I.A. Elsawirki, T. Veres, I. Csontos
Publikováno v:
ASDAM '98. Conference Proceedings. Second International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (Cat. No.98EX172).
The thermal degradation of Al/Al/sub 0.20/Ga/sub 0.80/As Schottky junctions was studied up to 750/spl deg/C, by steps of 50/spl deg/C for 2 hours in forming gas. Current-voltage and capacitance-voltage measurements indicated, that the strong degradat
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::505423156606ad43997f8169d609e943
https://doi.org/10.1109/asdam.1998.730182
https://doi.org/10.1109/asdam.1998.730182
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.