Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"A.D. Mikhaliov"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
V.V. Sushko, A.D. Mikhaliov, Yu. F. Ivanov, A. B. Markov, D.I. Proskurovskiy, O.G. Bakharev, S. N. Bratushka, Alexander D. Pogrebnjak, V.P. Rotstein, A.N. Valyaev
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
CIÊNCIAVITAE
CIÊNCIAVITAE
Rutherford backscattering spectroscopy, Auger electron spectroscopy, conversion electron Mossbauer spectroscopy, transmission microscopy and scanning electron microscopy showed that treatment of a thin or Mo film/α-Fe substrate system with a high-cu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::125ee7157d45432db37017421672f5dd
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0002389944&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0002389944&partnerID=MN8TOARS
Autor:
Antonio Zecca, V.I. Lavrentiev, A.N. Valyaev, S. N. Bratushka, Alexander D. Pogrebnjak, Yu.V. Tsvintarnaya, M. Iljashenko, R Sandrik, A.D. Mikhaliov, N.A Pogrebnjak
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
CIÊNCIAVITAE
CIÊNCIAVITAE
Using a micro-beam of ions (PIXE, RBS), a slow positron beam, measurements of positron lifetime, TEM and SEM techniques, formation of vacancy defects and dislocations has been found in a near-surface iron layer as a result of pulsed electron beam tre
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::34ca06cc79721677473fd755125b99cb
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0043287621&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0043287621&partnerID=MN8TOARS
Autor:
V.P. Rotstein, V.I. Lavrentiev, A.V. Markov, D.I. Proskurovsky, A.D. Mikhaliov, Yu. F. Ivanov, V.V. Stayko, S. M. Duvanov, Alexander D. Pogrebnjak
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
CIÊNCIAVITAE
CIÊNCIAVITAE
Cu(111),(100) single crystals implanted with Ti up to 8 × 10 17 cm −2 followed by high-current electron beam annealing (HCEB) have been investigated by means of transmission electron microscopy (TEM), Rutherford back-scattering (RBS), nuclear reac
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::49888514162f8c5f7fbd6b14a25ea3d3
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0031071208&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0031071208&partnerID=MN8TOARS
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Peng, Dongjin1, Guan, Qingfeng1 guanqf@ujs.edu.cn
Publikováno v:
Arabian Journal for Science & Engineering (Springer Science & Business Media B.V. ). Jul2012, Vol. 37 Issue 5, p1499-1504. 6p.
Publikováno v:
High Temperature Materials & Processes; Sep2018, Vol. 37 Issue 8, p777-784, 8p
Publikováno v:
Coatings (2079-6412); Oct2020, Vol. 10 Issue 10, p922-922, 1p