Zobrazeno 1 - 10
of 169
pro vyhledávání: '"A. Schweikert, E."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Science, 1990 May . 248(4958), 988-990.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2874401
Autor:
Schweikert, E-M1, Devarajan, A2, Witte, I1, Wilgenbus, P1, Amort, J1, Förstermann, U1, Shabazian, A2, Grijalva, V2, Shih, D M2, Farias-Eisner, R3, Teiber, J F4, Reddy, S T5, Horke, S1
Publikováno v:
Cell Death & Differentiation. Sep2012, Vol. 19 Issue 9, p1549-1560. 12p. 1 Color Photograph, 1 Black and White Photograph, 6 Graphs.
Autor:
Schweikert, E.
Publikováno v:
Rheinisches Museum für Philologie, 1914 Jan 01. 69, 191-204.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/41245169
Publikováno v:
Journal of Chemical Physics; 6/1/1992, Vol. 96 Issue 11, p8171, 6p
Publikováno v:
Journal of Chemical Physics; 2/15/1992, Vol. 96 Issue 4, p3206, 5p
Autor:
da Silveira, E. F., Schweikert, E. A.
Publikováno v:
Journal of Chemical Physics; 12/1/1988, Vol. 89 Issue 11, p6708, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Liang, C.K., V. Verkhoturov, S., Bisrat, Y., Dikler, S., D. Debord, J., A. Fernandez-Lima, F., A. Schweikert, E., Della-Negra, S.
Publikováno v:
Surface and Interface Analysis
Surface and Interface Analysis, Wiley-Blackwell, 2013, 45, pp.329-332. ⟨10.1002/sia.5084⟩
Surface and Interface Analysis, Wiley-Blackwell, 2013, 45, pp.329-332. ⟨10.1002/sia.5084⟩
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) applied in the event-by-event bombardment/detection mode is uniquely suited for the characterization of individual nano-objects. In this approach, nano-objects are examined one-by-one, allowing for the detection
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5ffb6ef6abda6979005e2b39793de770
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00842429
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00842429
Autor:
J. Eller, M., V. Verkhoturov, S., A. Fernandez-Lima, F., D. Debord, J., A. Schweikert, E., Della-Negra, S.
Publikováno v:
Surface and Interface Analysis
Surface and Interface Analysis, Wiley-Blackwell, 2013, 45, pp.529-531. ⟨10.1002/sia.4949⟩
Surface and Interface Analysis, Wiley-Blackwell, 2013, 45, pp.529-531. ⟨10.1002/sia.4949⟩
The use of large cluster primary ions (e.g. C60, Au400) in secondary ion mass spectrometry has become prevalent in recent years due to their enhanced emission of secondary ions, in particular, molecular ions (MW ≤ 1500 Da). The co-emission of elect
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid_dedup__::b39e9fde80e7f5ad8d3579a068978357
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00842377
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00842377