Zobrazeno 1 - 10
of 102
pro vyhledávání: '"A. Derrier"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Orianne, Derrier
Publikováno v:
CATS 叢書. 17:1-50
2022年度オンライン観光創造フォーラム. 2021年12月17日-2022年9月4日. オンライン. 北海道大学観光学高等研究センター.
Autor:
Panda, Soumya Ranjan, Zimmer, Thomas, Chakravorty, Anjan, Derrier, Nicolas, Fregonese, Sebastien
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; January 2024, Vol. 71 Issue: 1 p173-183, 11p
Autor:
F. Gianesello, C. Charbuillet, N. Derrier, D. Muller, C. Diouf, D. Ney, C. Deglise-Favre, I. Sicard, M. Ali Nsibi, R. Debroucke, M. Buczko, C.A. Legrand, Ph. Cathelin, F. Paillardet, J.C. Mas, P. Chevalier, D. Gloria
Publikováno v:
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
Autor:
Derrier, Martine
Mon engagement au service de l’éducation populaire s’inscrit dans le prolongement d’une histoire qui a commencé alors que je n’avais même pas vingt ans. En effet, j’ai le souvenir de mon père qui évoquait régulièrement son investisse
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=openedition_::246f4aa2df41b18f5eaf20e27e78a58a
http://books.openedition.org/pan/4678
http://books.openedition.org/pan/4678
Publikováno v:
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond ISBN: 9781003338994
This paper presents investigation results of the probe-tip calibration impact on the BiCMOS HBT small-signal parameter measurement accuracy. Popular calibration procedures were applied on the same data set and followed by the two-step de-embedding fr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f34ec3177f572383b42da38407cf9987
https://doi.org/10.1201/9781003338994-24
https://doi.org/10.1201/9781003338994-24
Publikováno v:
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond ISBN: 9781003338994
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d8d25213ea2d30afd15fe3e36f7955aa
https://doi.org/10.1201/9781003338994-25
https://doi.org/10.1201/9781003338994-25
Autor:
Jean-Pierre Derrier
Publikováno v:
Revue historique. :223-225