Zobrazeno 1 - 10
of 78
pro vyhledávání: '"621.315.592"'
Autor:
Донцова, Тетяна Анатоліївна
Об’єкт дослідження – нанокристалічний стануму (IV) оксид отриманий золь-гель методом та методом осадження з газової фази, немодифікован
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::f8e32ede0981492619eb940a49cd3f13
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/48221
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/48221
Autor:
Volodymyr Likhodiievskyi
Publikováno v:
Innovative Biosystems and Bioengineering : international scientific journal, 2019, Vol. 3, No. 3
Проблематика. Частота тяжких пошкоджень периферійних нервів і нервових сплетень має тенденцію до зростання. Аутонейропластика продовж
Publikováno v:
XХ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 18 – 19 травня 2021 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::5e1534501406d59cc83b52a3de35a150
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/42619
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/42619
Autor:
Dombrougov, Mikhail Removych
Publikováno v:
Mìkrosistemi, Elektronìka ta Akustika, Vol 24, Iss 1 (2019)
Microsystems, Electronics and Acoustics; Том 24, № 1 (2019); 6-14
Микросистемы, Электроника и Акустика; Том 24, № 1 (2019); 6-14
Мікросистеми, Електроніка та Акустика; Том 24, № 1 (2019); 6-14
Microsystems, Electronics and Acoustics; Том 24, № 1 (2019); 6-14
Микросистемы, Электроника и Акустика; Том 24, № 1 (2019); 6-14
Мікросистеми, Електроніка та Акустика; Том 24, № 1 (2019); 6-14
The inversion of the aluminum profile gradient in the epitaxial Ga-Al-Nm (Nm=P, As, Sb) heterostructures grown by the forced cooling from a liquid phase were investigated.Simulation of the liquid phase epitaxy is carried out in the Pfann approximatio
Autor:
Malyk, O. P., Kenyo, G. V.
Розглянуто процеси розсіяння електронів на близькодіючому потенціалі, обумовленому взаємодією з полярними та неполярними оптичними ф
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1859::0aa7f1b77f53a13184555f46c450a5e6
https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47229
https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47229
Досліджено особливості перенесення носіїв заряду мікрокристалів кремнію, легованих бором до концентрацій, які відповідають переходу м
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f54e451a665d9d0d06de61e244ec0cf2
https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/56561
https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/56561
Autor:
Antolii Oleksandrovych Druzhynin, Yurii Mykolaiovych Khoverko, Nazar Ihorovych Kucherepa, Ihor Petrovych Ostrovskyi
Publikováno v:
Microsystems, Electronics and Acoustics; Том 23, № 3 (2018); 6-13
Микросистемы, Электроника и Акустика; Том 23, № 3 (2018); 6-13
Мікросистеми, Електроніка та Акустика; Том 23, № 3 (2018); 6-13
Микросистемы, Электроника и Акустика; Том 23, № 3 (2018); 6-13
Мікросистеми, Електроніка та Акустика; Том 23, № 3 (2018); 6-13
Досліджено особливості перенесення носіїв заряду мікрокристалів кремнію, легованих бором до концентрацій, які відповідають переходу м
Publikováno v:
Мікросистеми, Електроніка та Акустика : науково-технічний журнал, 2019, Т. 24, № 1(108)
В роботі досліджені причини та закономірності явища інверсії градієнта профілю алюмінію в епітаксіальних гетероструктурах Ga-Al-Nm, що ви
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::d8afa3a6bedde95e642a8bfa4a41bd5d
https://doi.org/10.20535/2523-4455.2019.24.1.160164
https://doi.org/10.20535/2523-4455.2019.24.1.160164
Publikováno v:
Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 6, № 12 (96) (2018): Materials Science; 35-42
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 6, № 12 (96) (2018): Материаловедение; 35-42
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 6, № 12 (96) (2018): Матеріалознавство; 35-42
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 6, № 12 (96) (2018): Материаловедение; 35-42
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 6, № 12 (96) (2018): Матеріалознавство; 35-42
Based on measurements of infrared Fourier spectroscopy, Hall effect, and the tensor Hall-effect, we have established the nature, and determined the concentration, of the main types of radiation defects in the single crystals n-Si , irradiated by diff
Publikováno v:
Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 3, № 12 (93) (2018): Materials Science; 48-55
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 3, № 12 (93) (2018): Материаловедение; 48-55
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 3, № 12 (93) (2018): Матеріалознавство; 48-55
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 3, № 12 (93) (2018): Материаловедение; 48-55
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 3, № 12 (93) (2018): Матеріалознавство; 48-55
The morphological quality criterion was developed to have a possibility of formation of nanostructured layers on semiconductor surface with adjustable properties. The layers of low-porous indium phosphide with mesoporous structure were obtained. The