Zobrazeno 1 - 10
of 1 288
pro vyhledávání: '"4d stem"'
Autor:
Stroppa, Daniel G1 (AUTHOR) daniel.stroppa@dectris.com, Meffert, Matthias1 (AUTHOR), Hoermann, Christoph1 (AUTHOR), Zambon, Pietro1 (AUTHOR), Bachevskaya, Darya1 (AUTHOR), Remigy, Hervé1 (AUTHOR), Schulze-Briese, Clemens1 (AUTHOR), Piazza, Luca1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Microscopy Today. Mar2023, Vol. 31 Issue 2, p10-14. 5p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chatterjee, Debaditya, Huang, Shuoyuan, Gu, Kaichen, Ju, Jianzhu, Yu, Junguang, Bock, Harald, Yu, Lian, Ediger, M. D., Voyles, Paul M.
Physical vapor deposition can be used to prepare highly stable organic glass systems where the molecules show orientational and translational ordering at the nanoscale. We have used low-dose four-dimensional scanning transmission electron microscopy
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2302.10818
Autor:
Folastre, Nicolas, Cao, Junhao, Oney, Gozde, Park, Sunkyu, Jamali, Arash, Masquelier, Christian, Croguennec, Laurence, Veron, Muriel, Rauch, Edgar F., Demortière, Arnaud
The technique known as 4D-STEM has recently emerged as a powerful tool for the local characterization of crystalline structures in materials, such as cathode materials for Li-ion batteries or perovskite materials for photovoltaics. However, the use o
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2305.02124
Autor:
P. Zambon, J. Vávra, G. Montemurro, S. Bottinelli, A. Dudina, R. Schnyder, C. Hörmann, M. Meffert, C. Schulze-Briese, D. Stroppa, N. Lehmann, L. Piazza
Publikováno v:
Frontiers in Physics, Vol 11 (2023)
This study presents the performance assessment of a novel hybrid pixel detector. The electron counting application-specific integrated circuit (ASIC), named KITE, was optimized for 4D STEM applications and bump-bonded to a silicon sensor that is suit
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9f950575990149298452280c86728a50
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jannis, Daen, Hofer, Christoph, Gao, Chuang, Xie, Xiaobin, Béché, Armand, Pennycook, Timothy J., Verbeeck, Jo
Four dimensional scanning transmission electron microscopy (4D STEM) records the scattering of electrons in a material in great detail. The benefits offered by 4D STEM are substantial, with the wealth of data it provides facilitating for instance hig
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2107.02864
Publikováno v:
BIO Web of Conferences, Vol 129, p 24004 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a699e938f1bd486f9ce7e3aaeb1d66d6
Autor:
Potapov Leonid, Wu Mingjian
Publikováno v:
BIO Web of Conferences, Vol 129, p 06028 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2181bb67ec584f70be4c820e0b9ef95d