Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"4H–SiC epitaxial layer"'
Autor:
Zhuorui Tang, Shibo Zhao, Jian Li, Yuanhui Zuo, Jing Tian, Hongyu Tang, Jiajie Fan, Guoqi Zhang
Publikováno v:
Case Studies in Thermal Engineering, Vol 59, Iss , Pp 104507- (2024)
This work addresses a novel technique for selecting the best process parameters for the 4H–SiC epitaxial layer in a horizontal hot-wall chemical vapor reactor using a transient multi-physical (thermal-fluid-chemical) simulation model and combined w
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/173aa09a172844379ca29aa739baf492
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Micromachines, Vol 11, Iss 3, p 254 (2020)
Advances towards achieving the goal of miniature 4H-SiC based radiation detectors for harsh environment application have been studied extensively and reviewed in this article. The miniaturized devices were developed at the University of South Carolin
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ac975ebaad5849028003acc7399437a4
Publikováno v:
Micromachines
Micromachines, Vol 11, Iss 3, p 254 (2020)
Volume 11
Issue 3
Micromachines, Vol 11, Iss 3, p 254 (2020)
Volume 11
Issue 3
Advances towards achieving the goal of miniature 4H-SiC based radiation detectors for harsh environment application have been studied extensively and reviewed in this article. The miniaturized devices were developed at the University of South Carolin
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mandal KC; Department of Electrical Engineering, University of South Carolina, Columbia, SC 29208, USA., Kleppinger JW; Department of Electrical Engineering, University of South Carolina, Columbia, SC 29208, USA., Chaudhuri SK; Department of Electrical Engineering, University of South Carolina, Columbia, SC 29208, USA.
Publikováno v:
Micromachines [Micromachines (Basel)] 2020 Feb 28; Vol. 11 (3). Date of Electronic Publication: 2020 Feb 28.