Zobrazeno 1 - 10
of 59 061
pro vyhledávání: '"130 nm"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In AEUE - International Journal of Electronics and Communications April 2024 177
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Yuanzineng kexue jishu, Vol 58, Iss 2, Pp 506-512 (2024)
The space environment is a very harsh operating environment, and space radiation can directly affect the operation of electronic devices causing total ionizing dose (TID), single event effect (SEE) and displacement damage (DD). For most devices TID a
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/d2a1f1a60d674da9a8a4b30116889eb9
Autor:
Boumediene, D., Jouve, F., Lambert, D., Madar, R., Manen, S., Perrin, O., Royer, L., Soulier, A., Vandaele, R.
Designing integrated circuits in radiation environments such as the High Luminosity LHC (HL-LHC) is challenging. Integrated circuits will be exposed to radiation-induced Single Event Effects (SEE). In deep sub-micron technology devices, the impact of
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2112.05720
