Zobrazeno 1 - 10
of 109
pro vyhledávání: '"001 silicon"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
A direct diamond epitaxy on the silicon substrate is demonstrated not only at the interface formed during the growth process but also at the nucleation sites. The small (001) terraces with dimensions of several atomic distances at the site of nucleat
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::c1299e60cad180ad43a8f075aeb368e5
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/197251
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/197251
Epitaxial CoSi2 (001) layers, deposited on Si(001) substrates by molecular beam allotaxy, were used as substrates for diamond deposition in order to realize applications. The nucleation and textured growth of diamond films were compared with those on
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::3f57899565ee963b83b1f339bfbe1db1
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/197224
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/197224
This paper reports the progresses made recently on the nucleation and growth of high-quality, [001]-oriented diamond films and discusses the problems to be resolved. The interface structure of diamond on silicon has further been investigated by trans
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::cab0b96e1f6d01ebb5ccfb5eb3a8dfd8
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/197230
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/197230
Autor:
Luisa Ferrari, Giorgio Contini, A.C. Felici, Antonio Cricenti, Stefano Selci, Guido L. Chiarotti
Angle-resolved photoelectron spectroscopy and surface differential reflectivity have been used to study the electronic structure of Si(100):Sb-1\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}1 and Si(100):Sb-2\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}1 surfaces. For both
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::16996d176b9221d09890221ec927811f
http://hdl.handle.net/11573/384377
http://hdl.handle.net/11573/384377
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.