Zobrazeno 1 - 1
of 1
pro vyhledávání: '"失配率"'
Publikováno v:
Guangtongxin yanjiu, Vol , p 0 (1996)
采用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）对ＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰ异质结构ＭＯＣＶＤ外延晶片作了表面薄层元素、组分定性、定量和深度分布分析。利用ＸＰＳ组分定量数据与带隙和组分量数
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0ebaaea2d25644459cf90c414a42ea31
