Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"тонке покриття"'
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021
Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021
The results of solving the problem of accelerating the study of the characteristics of functional surfaces of mechatronic devices by atomic force microscopy through the use of multiprobe tools, which provides the necessary levels of accuracy and reli
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::9651b381ccb5410c5ce6dee7c9a78100
http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/246972
http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/246972
Publikováno v:
XХ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 18 – 19 травня 2021 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::5e254cc639d62a916e0d1a0cc96624b8
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/42565
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/42565
В роботі проводилося дослідження поверхонь елементів мехатронних пристроїв з метою визначення геометричних (стану, топології та морфо
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::004ef79190a62cdc0fb27be007319a11
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3694
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3694
Autor:
Hovorun, Tetiana Pavlivna, Protsenko, Serhii Ivanovych, Pchelintsev, Viktor Oleksandrovych, Chornous, Anatolii Mykolaiovych
The investigations of grain-boundary diffusion in Сu films with Ni thin overlayer and Ni films with Cu thin overlayer by low-temperature resistomethric method where presented in this work. It was shown, that under the overlayer covering and the ther
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2001::65906ab87e0933b90ef6ef1bc7b9f6e8
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2668
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2668
Autor:
Pchelintsev, Viktor Oleksandrovych, Hovorun, Tetiana Pavlivna, Protsenko, Serhii Ivanovych, Chornous, Anatolii Mykolaiovych
Investigation results of the grain-boundary diffusion in Сu films with thin Ni coating and in Ni films with thin Cu coating by the low-temperature resistometric method are presented in this work. It is shown that during the coating deposition and th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2001::a2154cb147ed67b7d638098a1cdc24e5
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9350
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9350