Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"переріз захоплення"'
Publikováno v:
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 16, № 4 (2019); 72-80
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 16, № 4 (2019); 72-80
Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 16, № 4 (2019); 72-80
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 16, № 4 (2019); 72-80
Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 16, № 4 (2019); 72-80
Створено апаратну платформу для підтримки кількох методик, яка дозволяє окрім дослідження параметрів глибокорівневих дефектів (DLTS), од
Autor:
Tretyak, O. V., Opylat, V. J., Boiko, Y. V., Gryaznov, D. B., Derkach, I. A., Povarchuk, V. Yu.
Publikováno v:
Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 7, № 1 (2010); 43-51
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 7, № 1 (2010); 43-51
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 7, № 1 (2010); 43-51
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 7, № 1 (2010); 43-51
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 7, № 1 (2010); 43-51
На підставі аналізу способів визначення термічного поперечного перерізу захоплення дефектом носіїв заряду зі спектрів DLTS розкриті мож
Publikováno v:
Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 9, № 4 (2012)
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 9, № 4 (2012)
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 9, № 4 (2012)
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 9, № 4 (2012)
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 9, № 4 (2012)
На основі аналізу недоліків класичних методів обробки сигналів РСГР (релаксаційна спектроскопія глибоких рівнів) запропоновано альтер