СПЕКТРОСКОПІЯ З ВИКОРИСТАННЯМ ПОВЕРХНЕВОГО ПЛАЗМОННОГО РЕЗОНАНСУ: МОЖЛИВОСТІ ТА ОБМЕЖЕННЯ

Autor: Chegel, V. I., Shirshov, Yu. M.

Publikováno v: Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 1, № 2 (2004); 34-49
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 1, № 2 (2004); 34-49
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 1, № 2 (2004); 34-49

The review deals with (i) investigation of the physical processes of light interaction with multilayer film structures at the “TIR prism surface-medium under investigation” interface and (ii) development of a novel high-sensitivity optoelectronic

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::c76c2a1808c4a0183334c501ca1ea96b
http://semst.onu.edu.ua/article/view/111890