Zobrazeno 1 - 10
of 1 011
pro vyhledávání: '"методика „damage control”"'
Publikováno v:
Medical Perspectives / Medičnì Perspektivi. 2024, Vol. 29 Issue 3, p85-96. 12p.
Publikováno v:
Український журнал військової медицини, Vol 3, Iss 2 (2022)
Вступ. Провідною причиною смерті у всьому світі є травма, включаючи вогнепальну, від якої щорічно помирає близько 5,8 млн людей. Зокрема, з
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/161ea22ece12444098005353756238b7
Autor:
Штанова, Л. Я.1 shtanova@ukr.net, Весельський, С. П.1, Янчук, П. І.1, Цимбалюк, О. В.1, Москвіна, В. С.1, Шабликіна, О. В.1, Решетнік, Є. М.1, Кравченко, О. В.2, Хиля, В. П.1
Publikováno v:
Physiological Journal / Fiziologichnyi Zhurnal. 2024, Vol. 70 Issue 5, p79-87. 9p.
Autor:
Денисова, М. В.1 mayadenisova81@gmail.com, Струтинська, Н. А.1, Коркач, Ю. П.1, Мись, Л. А.1, Магомедов, О. М.1, Струтинський, Р. Б.1, Сагач, В. Ф.1
Publikováno v:
Physiological Journal / Fiziologichnyi Zhurnal. 2024, Vol. 70 Issue 1, p3-13. 11p.
Autor:
СИКАЛО, О. О.1 movchanoksana22@gmail.com, ШПАК, Б. І.2 shpak.nmu@gmail.com
Publikováno v:
Scientific Journal 'Biological Systems: Theory & Innovation / Bìologìčnì Sistemi: Teorìâ Ta Ìnnovacìï. 2024, Vol. 15 Issue 2, p76-83. 8p.
Autor:
БУРИЕВА, С. А.1, КУЧАРОВ, Б. Х.1, КИМ, Р. Н.1, МАМАСАЛИЕВА, Л. Э.1, МЯЧИНА, О. В.1, ЙУЛБАРСОВА, М. В.1, ИСАБАЕВ, Д. З.1
Publikováno v:
Uzbek Chemical Journal / O'Zbekiston Kimyo Jurnali. 2024, Issue 5, p29-35. 7p.
Publikováno v:
Bulletin of KNUTD. 2020, Vol. 148 Issue 4, p48-58. 11p.
Autor:
Кондро, М. М.1 marianakondro@gmail.com, Вервега, Б. М.1, Галенова, Т. І.2, Савчук, О. М.2, Співак, М. Я.3
Publikováno v:
Physiological Journal / Fiziologichnyi Zhurnal. 2024, Vol. 70 Issue 6, p40-47. 8p.
Autor:
Головаха, М. Л.1 golovahaml@gmail.com, Білих, Є. О.1 dr.bilykh@gmail.com, Перцов, В. І.1 profpertsov@gmail.com
Publikováno v:
Orthopaedics, Traumatology & Prosthetics / Ortopediia, Traumatologiia i Protezirovaniie. Jul-Sep2024, Issue 3, p28-33. 6p.
Autor:
G. A. Piskun, V. F. Alexeev
Publikováno v:
Doklady Belorusskogo gosudarstvennogo universiteta informatiki i radioèlektroniki, Vol 0, Iss 6, Pp 12-18 (2019)
Since the built-in flash-memory microcontroller is an installed program code, we performed an analysis of its resistance to ESD. It was found that the code is damage when exposed to ESD voltage of less critical by 3.06%. This can lead to incorrect tr
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/dac1df3c7fd3492997623296ee0df776