Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"контактная разность"'
Представлена физическая сущность метода контактной разности потенциалов неразрушающего контроля деталей машин. Проанализированы про
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8da5922cdbe79f81ff339f8e0134ec81
Autor:
V. A. Novikov, D V Grigoryev, Sergey A. Dvoretsky, A. V. Voitsekhovskii, Nikolay N. Mikhailov, D. A. Bezrodnyy
Publikováno v:
Journal of electronic materials. 2017. Vol. 46, № 7. P. 4435-4438
The manufacturing process of wide-band-gap matrix photodetector devices and miniaturization of their individual pixels gave rise to increased demands on the material quality and research methods. In the present paper we propose using the methods of a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::613ee3dc926a0f3fe484c0801d60de63
https://doi.org/10.1007/s11664-017-5393-0
https://doi.org/10.1007/s11664-017-5393-0
Publikováno v:
Вісник двигунобудування; № 1 (2019): Вісник двигунобудування
Вестник двигателестроения; № 1 (2019): Вестник двигателестроения
Herald of Aeroenginebuilding; № 1 (2019): Herald of aeroenginebuilding
Вестник двигателестроения; № 1 (2019): Вестник двигателестроения
Herald of Aeroenginebuilding; № 1 (2019): Herald of aeroenginebuilding
Цель работы. Исследование зависимости работы выхода электронов от подготовки и вида восстанавливающей термообработки образцов из спла
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::648f8a805f4aef035df718c646586083
http://vd.zntu.edu.ua/article/view/180329
http://vd.zntu.edu.ua/article/view/180329
Publikováno v:
Приборы и методы измерений.
В настоящее время использование методов зондовой электрометрии в неразрушающем контроле сдерживается сложностью интерпретации резул
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::2126be07b35c0333cfbe00e82374d8a7
http://cyberleninka.ru/article/n/analiz-defektov-poverhnosti-ishodnyh-podlozhek-alyuminiya-i-ego-splavov-metodom-skaniruyuschego-zonda-kelvina
http://cyberleninka.ru/article/n/analiz-defektov-poverhnosti-ishodnyh-podlozhek-alyuminiya-i-ego-splavov-metodom-skaniruyuschego-zonda-kelvina
В настоящее время использование методов зондовой электрометрии в неразрушающем контроле сдерживается сложностью интерпретации резул
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2402::f419df64e905ceebea35ecf349e44776
https://rep.bntu.by/handle/data/28495
https://rep.bntu.by/handle/data/28495
Publikováno v:
Приборы и методы измерений.
Измерители контактной разности потенциалов отличаются большим многообразием и изготавливаются в основном в лабораторных условиях для
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::92516c2cf651f1a89febd8d69c14de02
http://cyberleninka.ru/article/n/postroenie-izmeriteley-kontaktnoy-raznosti-potentsialov
http://cyberleninka.ru/article/n/postroenie-izmeriteley-kontaktnoy-raznosti-potentsialov
В настоящее время принципы построения аналоговых измерителей контактной разности потенциалов достаточно хорошо отработаны. Однако ос
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2402::aed55dba0f590d5c9de82456cb87c2e9
https://rep.bntu.by/handle/data/24836
https://rep.bntu.by/handle/data/24836
Publikováno v:
Приборы и методы измерений.
В настоящее время принципы построения аналоговых измерителей контактной разности потенциалов достаточно хорошо отработаны. Однако ос
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::e5e622cea1396cdb19fb0ef5a8c0998d
http://cyberleninka.ru/article/n/tsifrovoy-izmeritel-kontaktnoy-raznosti-potentsialov
http://cyberleninka.ru/article/n/tsifrovoy-izmeritel-kontaktnoy-raznosti-potentsialov
Рассмотрены вопросы измерения работы выхода электрона по контактной разности потенциалов и экспериментально обоснована возможность п
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2402::dd961081f9a900dfed4b574bc956373f
https://rep.bntu.by/handle/data/18001
https://rep.bntu.by/handle/data/18001
Publikováno v:
Microelectronic engineering. 2015. Vol. 133. P. 73-77
Display Omitted The effect of local changing of contact potential difference of Au-GaAs with charging is detected.It is assumed that the CPD change is due to the charge trapping at the metal-semiconductor interface.Local charging causes increasing of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::85c3e255155398ed0fcc1bdd2741b618
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000577971
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000577971