Zobrazeno 1 - 10
of 63
pro vyhledávání: '"атомно-силова мікроскопія"'
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету, Vol 1, Iss 3, Pp 21-26 (2018)
Currently leading manufacturers of electronic components serially produce a rather extensive list of elements, in which various microelectromechanical structures are included, such as various accelerometers, which are produced by millions of copies,
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cfbaa1b6b7bc42b085abf57ce414626e
Autor:
С. Ф. Петренко, О. Г. Новаковський, Віктор Степанович Антонюк, Є. В. Скорина, Юлія Юріївна Бондаренко
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету, Vol 1, Iss 1, Pp 5-13 (2018)
The article briefly describes the principle and operating modes of atomic-force microscope (AFM), as well as the features of microgeometry and surface properties of dielectric materials for micro and nanoelectronics using AFM method. The purpose of t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/41a644f722a24146878df2fe3fa32b21
Publikováno v:
Vіsnik Naukovih Doslіdžen', Vol 0, Iss 1 (2018)
The article presents the results of the study of the tooth enamel surface using atomic force microscopy. The aim of the study – application of atomic force microscopy to study the topography of the surface of a normal tooth enamel. Materials and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9025b50859dc47b48b302460a8fa20f3
Autor:
С. О. Білокінь
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету, Vol 1, Iss 1 (2016)
В роботі описано методику модифікування зондів атомно-силового мікроскопа методом термовакуумного осадження з подальшою електронною
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c0163c8b951d4d0e9784a30c32a34221
Autor:
Gosavi, S.R.
У роботі тонкі плівки селеніду міді (Cu2-xSe) були виготовлені на підкладці з аморфного скла методом хімічного осадження у ванні (CBD) при кім
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2001::42227aabafe276f42b6935b7ad6775fb
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/89192
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/89192
The influence of deposited Al, Pd, Co, Au, Ni atoms on a single-layer graphene substrate is investigated using computer simulations. The computer modelling of spraying nanoparticles on the basis of molecular dynamics method is implemented using the N
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5dd4c497d755cd24f7e952246bc87997
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88966
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88966
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021
Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021
The results of solving the problem of accelerating the study of the characteristics of functional surfaces of mechatronic devices by atomic force microscopy through the use of multiprobe tools, which provides the necessary levels of accuracy and reli
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::9651b381ccb5410c5ce6dee7c9a78100
http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/246972
http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/246972
Autor:
Vashchenko, Vyacheslav, Yatsenko, Irina, Kovalenko, Yuriy, Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Lytvyn, P.M., Korchovyi, A.A., Mamykin, S.V., Kondratenko, O.S., Maslov, V.P., Dorozinska, H.V., Dorozinsky, G.V.
Publikováno v:
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, Vol 22, Iss 4, Pp 444-451 (2019)
Electron-beam treatment the glass substrates for sensitive elements of SPR devices causes almost two-fold narrowing their refractometric characteristics from 0.867 down to 0.453 deg. The angular shift was also changed, which made the measuring range
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e4328eb07bfd67009174ff59d1fc7fc3
http://journal-spqeo.org.ua/n4_2019/P444-451abstr.html
http://journal-spqeo.org.ua/n4_2019/P444-451abstr.html
Autor:
Воронов, Станіслав Андрійович, Національний університет 'Львівська політехніка', Рябов, Сергій Володимирович, Савченко, Ірина Олександрівна, Аксіментьєва, Олена Ігорівна
Дисертацію присвячено розробці стратегії синтезу та одержанню нових полімерних матеріалів – прищеплених полімерних щіток, які чутлив
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1859::717295ae447a334533ee2793304006f8
https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/56456
https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/56456